เครื่องวิเคราะห์ผิววัสดุ FESEM
Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-7001F

Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) เป็นเครื่องมือที่มีประโยชน์ในการศึกษาโครงสร้างขนาดเล็กระดับจุลภาค และเป็นอุปกรณ์ที่ใช้กันอย่างแพร่หลายทั้งในการวิจัย และการผลิตภาคอุตสาหกรรม FESEM เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายสูงถึงระดับ 1,000,000 เท่า ทำให้สามารถศึกษาโครงสร้างขนาดเล็กระดับไมโครหรือนาโนได้ FESEM ยังสามารถเชื่อมต่อกับอุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer ; EDS) ซึ่งช่วยในการศึกษา ชนิด ปริมาณ และการกระจายขององค์ประกอบธาตุของวัสดุที่ศึกษาได้ อีกทั้ง FESEM ยังสามารถเชื่อมต่อกับอุปกรณ์หรือหัววัดอื่นๆเพื่อใช้ศึกษาวิเคราะห์ตามวัตถุประสงค์ที่ต่างกันออกไป เช่น เชื่อมต่อกับอุปกรณ์วิเคราะห์การเรียงตัวของผลึกโดยใช้สัญญาณจากการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (Electron Backscatter Diffraction; EBSD) นอกจากนี้ FESEM ยังสามารถประยุกต์โดยเชื่อมต่อกับชุดอุปกรณ์ควบคุมลำอิเล็กตรอนเพื่อใช้เขียนลวดลายขนาดเล็กลงบนชิ้นงาน (Electron Beam Lithography) จะเห็นได้ว่า FESEM เป็นเครื่องมือที่มีความจำเป็นต่อการศึกษาวิจัย ด้วยกำลังขยายที่สูง และสามารถประยุกต์ใช้งานได้หลากหลายและครอบคลุมการศึกษาวิจัยในระดับจุลภาค

อัตราค่าบริการ

ตารางอัตราค่าบริการ  Download ที่นี่

การติดต่อ

หน่วยเครื่องมือวิเคราะห์กลาง ศูนย์ความเป็นเลิศด้านฟิสิกส์
ภาควิชาฟิสิกส์ จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ถนนพญาไท เขตปทุมวัน 10330
เบอร์โทรศัพท์ : 02-218-5108 , โทรสาร : 02-218-5116

เนื่องด้วยเกิดการระบาดของโรคติดต่อเชื้อไวรัสโคโรนา 2019 (COVID 19) เพื่อความสะดวกในช่องทางการติดต่อสามารถติดต่อได้ที่
เบอร์โทรศัพท์ : 085-8120511
Email : fesem@thep-center.org
เวลาทำการ : จันทร์ – ศุกร์ เวลา 8.30 – 16.30 น.
สามารถติดตามข่าวสาร และการใช้บริการของเครื่อง FESEM ได้ที่ Facebook 

เอกสารรายละเอียดเพิ่มเติม

เครื่อง FESEM Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-7001F คลิก Download ที่นี่