ศูนย์ความเป็นเลิศด้านฟิสิกส์ ร่วมกับ ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช. (NCTC) จัดงานสัมมนาเชิงวิชาการในหัวข้อ “การประยุกต์ใช้งานและการวิเคราะห์ด้วยเทคนิค XPS ขั้นสูง”

ระหว่างวันที่ 12 – 14 มีนาคม 2567 ศูนย์ความเป็นเลิศด้านฟิสิกส์ ร่วมกับ ศูนย์บริการวิเคราะห์ทดสอบ สวทช. (NCTC) ได้จัดงานสัมมนาเชิงวิชาการในหัวข้อ “การประยุกต์ใช้งานและการวิเคราะห์ด้วยเทคนิค XPS ขั้นสูง” ด้วยเทคนิค X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) ซึ่งใช้ในการวิเคราะห์คุณลักษณะเฉพาะทางเคมีของพื้นผิว (Chemical Surface Analysis) มีความสำคัญของการพัฒนางานวิจัยและนวัตกรรม รองรับการวิเคราะห์/ทดสอบภาครัฐ ภาคผลิต ภาคบริการ และภาคอุตสาหกรรมในประเทศและต่างประเทศ โดยมี นายชาญวิทย์ ศรีพรหม เจ้าหน้าที่วิทยาศาสตร์ศูนย์ฯ เป็นวิทยากร ณ ห้อง Lecture 1 บ้านวิทยาศาสตร์สิรินธร (อาคาร18)

โดยการอบรมครั้งนี้ เป็นการมุ่งเน้นให้เกิดความรู้และความเข้าใจเกี่ยวกับเทคนิคการวิเคราะห์ด้วย XPS ในเชิงลึก และ การแปลผลวิเคราะห์โดยอาศัยหลักการที่เกี่ยวข้อง เพื่อให้ผู้เข้ารับการอบรม สามารถนำไปปรับใช้เพื่อให้เกิดประโยชน์สูงสุด